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　　专利摘要显示，本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种大规模芯片代码覆盖率获取方法、电子设备和介质，方法包括步骤 S1、构建不同的测试集群；步骤 S2、为 Giq 设置验证配置信息、测试参数及待验证接口集合；步骤 S3、并行基于每一 Aiq 生成对应的文件列表，并编译产生对应的可执行文件 Fiq；步骤 S4、并行将 Biq 传输给 Giq 中的测试用例，基于 Fiq 执行对应的验证操作，获取 Giq 已翻转待验证接口集合 Eiq；步骤 S5、当 Gq 全部执行完毕后，获取 Gq 对应的所有 Eiq 的并集 GEiq；步骤 S6、当所有 Gq 全部执行完毕后，获取所有 GEiq 的并集 GE，基于 GE 和 GD 确定大规模芯片代码覆盖率。本发明能够准确快速获取大规模芯片代码覆盖率。